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非饱和高压加速老化试验机高压加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。随着半导体可靠性的提高，大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。
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饱和高压加速老化试验箱(又名PCT高压加速老化试验箱)测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于对电工,电子产品,元器件,零部件,IC半导体,磁性材料,高分子材料,金属材料,EVA材料,连接器,光伏组件及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下，对产品的物理以及其它相关性能进行测试，测试后，通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求，以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。
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不锈钢PCT加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。
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PCT高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。
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高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。
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加速老化箱用于各类电子产品及橡胶塑料等产品的热老化试验检测。
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